產(chǎn)品概要

E 系列是一款功能進(jìn)階級(jí)探針臺(tái)，能實(shí)現(xiàn) 1μm 以上的電極 Pad 測(cè)試，工效學(xué)設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單易操作，靈活的UPStart? 模塊化設(shè)計(jì)，客戶可通過(guò)最低的成本升級(jí)更多的測(cè)試功能，如：毫米波 mmW，F(xiàn)A、MEMS、WLR 和光電等測(cè)試。

應(yīng)用方向

LD/LED/PD的光強(qiáng)/波長(zhǎng)測(cè)試、晶圓二極管、三極管測(cè)試、PCB元器件測(cè)試、材料/器件的IV/CV特性測(cè)試、、功率器件測(cè)試、MEMS器件測(cè)試、射頻測(cè)試等

POMater? 自適應(yīng)隔震底座

自適應(yīng)減震底座設(shè)計(jì)，德國(guó)進(jìn)口隔震材料增強(qiáng)彈性支撐，實(shí)現(xiàn)不同程度的剛性硬度和承載范圍，并有效過(guò)濾環(huán)境中的震動(dòng)源干擾，確保探針末端和樣品的Pad穩(wěn)定接觸，提升測(cè)試的穩(wěn)定性。

卡盤可升降調(diào)節(jié)

卡盤可微調(diào)升降，行程 5mm，精度 10μm，便于樣品快速分離探針。

顯微鏡氣動(dòng)式快速升降，便于更換顯微鏡和探針卡夾具。

大尺寸機(jī)臺(tái)設(shè)計(jì)

大尺寸機(jī)身結(jié)構(gòu)，增強(qiáng)操作舒適度。更大空間的針座平臺(tái)，支持 加載針卡，提升點(diǎn)針測(cè)試效率。

機(jī)臺(tái)定制應(yīng)用案例

1、石英樣品臺(tái)6英寸，玻璃樣品臺(tái)卡在不銹鋼上，不銹鋼卡盤通過(guò)立柱固定在X-Y平移臺(tái)上部 2、玻璃樣品臺(tái)采用高透紫外線玻璃，透光波長(zhǎng)單位200nm-1100nm透光率85%以上，樣品固定方式采用彈片固定 3、兩個(gè)樣品臺(tái)可以拆卸使用

E系列增強(qiáng)型手動(dòng)探針臺(tái)規(guī)格參數(shù)